名称：科宇系统有限公司
英文名称：Active Link System Corp
统一编号：28149849
主打产品服务：四点探针与湿制程浓度量测
正式网址：http://www.activelink.com.tw
服务时间：09:00-18:00 全年无休
负责人或业务联络人：许江州

科宇系统代理欧美半导体与光电产业的专业量测分析设备，包括湿制程浓度分析仪、光罩检查缺陷检查机台、材料表面轮廓分析与薄膜片电阻量测，以及太阳电池制程片电阻与漏电流量测等机台与周边耗材。


CI-SEMI
WetSpec Real time multi channel concentration monitor
湿制程多通道即时浓度监测系统适用于清洗(Clean),蚀刻(Etch),去光阻(Strip)等的化学槽监测，如半导体制程SC1、SC2、BOE、DHF、EKC、ACT; 光电产业Al etch、BOE、PR STRIPPER等;与太阳能制程的HF/HNO3、KOH/IPA等化学液浓度监控。
NIR量测迅速可以即时监控浓度变化，一台主机对应八个不同酸槽不同应用，成本低、扩充弹性大


美国Probing Solutions Inc. PSI
Probe Stations晶圆探针台 4"~12" wafer probe.
Photomasks Inspection/review station/光罩显微检验机台 inspecting particles on pellicles or glass and pattern defects.专为光罩检查设计，操作容易搭配8种照明模式容易观测各种缺陷。


4 Dimensions Inc.
CV Mapping system电容-电压量测系统 C-V, I-V, Q-V...特殊汞探针设计可直接量测无图形晶圆。


4 point probes 四点探针阻值量测系统适用于半导体或光电产业薄膜阻值量测。
Sheet Resistance 片电阻量测 Solar Cell, ITO, Wafer mapping.
另外针对太阳电池应用4D开发出可以量测片电阻与漏电流检测之专利机种，可以检测PN Junction漏电流


Jandel Probe Heads 适用各大厂之阻值量测系统使用之四点探探头，品质优异价格合理

Kernel System Overlay Analyses Software
HiROX 3D Digital Microscope System

服务内容: Probe station 探针台,wet process moniting 湿制程 浓度计,四点探针 4 point probe KLA CDE 4D Jandel,photomask inspection 362PMI MM机,ADE Used System,Hg probe 汞探针,Solar cell 太阳电池 漏电流,电容-电压C-V量测

主要服务地区：台湾北部, 台湾中部, 台湾南部, 台湾东部

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