簡介
科宇系統代理國外半導體與光電產業使用的專業量測分析設備，包括濕製程濃度分析，材料表面分析與探針量測，觸控面板AOI檢查機台。
PEMTRON Corp
3D Nano-Profiling System白光干涉表面輪廓儀
SEMART SS-100 SEM 掃描式電子顯微鏡
Touch Panel ITO Inspection system 觸控面板ITO缺陷檢查機台
TROI 3D Solder Paste Inspector PCB錫膏檢查機
CI-SEMI
WetSpec Real time multi channel concentration monitor
濕製程多通道即時濃度監測系統
Probing Solutions Inc. PSI
Probe Stations/晶圓探針台
Photomasks Inspection/review station/光罩顯微檢驗機台
4 Dimensions Inc.
CV Mapping system電容-電壓量測系統 C-V, I-V, Q-V...
4 point probes 四點探針阻值量測系統
Sheet Resistance 片電阻量測 PV ITO Wafer mapping
Jandel Probe Heads for CDE, KLA, 4D and others 4 point probes system
Kernel System Overlay Analyses Software
HiROX 3D Digital Microscope System
配送及付款方式
主要服務地區：台灣北部, 台灣中部, 台灣南部, 台灣東部
聯絡資料
聯絡電話：(03)6586503
業務聯絡手機：0936-876545
傳真電話：(03)6586507
聯絡地址：新竹縣竹北市自強五路37號3樓
聯絡信箱：david@activelink.com.tw
Skype網路電話：david1023
備用聯絡信箱：david1023tw@gmail.com
地址：新竹縣竹北市自強五路37號3樓
電話：(03)6586503
