https://www.activelink.com.tw/ 科宇系統代理歐美半導體與光電產業的專業量測分析系統，包括微米、納米級物體表面的三維精密測量儀、濕製程濃度分析儀、光罩檢查機、探針台、CV / IV 量測系統、薄膜和片電阻的測量儀、以及太陽電池製程中的片電阻與漏電流量的量測等機台和周邊耗材。* Jandel & MPP Probe Heads適用各大廠之阻值量測系統使用之四點探針探頭，品質優異價格合理* 4 Dimensions Inc.Hg CV Mapping system 電容-電壓量測系統 C-V, I-V, Q-V...特殊汞探針設計可直接量測無圖形晶圓。 4 point probe system 四點探針阻值量測系統適用於半導體或光電產業薄膜阻值量測。Sheet Resistance 片電阻量測 Solar Cell, ITO, Wafer mapping. 另外針對太陽電池應用4D開發出可以量測片電阻與漏電流檢測之專利機種，可以檢測PN Junction漏電流* SubNano 鎮江超納儀器3D Optical microscope/Non-contact Surface profiler 微米/納米級物體表面微觀特徵的三維精密測量，包括錶面缺陷、錶面粗糙度、錶面台階高度差、薄膜厚度等等。這些應用包括了先進製造業的各個領域如集成電路製程工藝、微電子機械系統（MEMS）製造技術、太陽能光伏電池生產技術、高效LED晶元生產技術、高端通訊製造技術、超精密機械加工中的航空/航太/汽車/光學零件錶面粗糙度、新型材料錶面特徵、智慧手機/平面電腦/平面顯示器裝配等等領域的研發和大規模生產 * CI-SEMIIn-line, real-time concentration monitor ，化學液濃度分析儀，濕製程多通道即時濃度監測系統適用於清洗(Clean)、蝕刻(Etch)、去光阻(Strip)等化學槽監測，如半導體製程SC1、SC2、BOE、DHF、EKC、ACT；光電產業Al etch、BOE、PR STRIPPER；太陽能廠裡製程中的HF/HNO3、KOH/IPA等化學液濃度監控，依據不同的需求有不同的選擇。NTM，In-Situ Wafer Temperature Monitor，非接觸式的紅外光測溫器，適用於製程中測量晶圓表面溫度，NTM會自動進行反射率(Emissivity)的補償，CI-SEMI的NTM廣泛的使用在OEM的製造商機台上，用於如CVD 、PVD、Dry Etch、RTP等製程機台上，OEM的製造商例如Applied Material、TEL、Novellus、Ulvac等。 * Probing Solutions Inc.Probe Stations 晶圓探針台 4"~12" wafer probe. Photomask Inspection Station 光罩顯微檢驗機台 inspecting particles on pellicles or glass and pattern defects.專為光罩檢查設計，操作容易搭配8種照明模式容易觀測各種缺陷。 zh 智邦生活館 版權所有 Foresight v0.3.2 RSS 2.0 Generator 智邦生活館 網站代管 Thu, 11 Sep 2025 13:40:23 CST Thu, 11 Sep 2025 13:40:23 CST 智邦生活館 版權所有 10080 13414 Thu, 16 Feb 2012 17:38:50 +0800 本公司提供四點探針頭品質優良價格實惠 適用 KLA, CDE, 4D 等各式4PP機台如有需求請與本公司連絡 03-6586503 https://www.activelink.com.tw/hot_13414.html https://www.activelink.com.tw/hot_13414.html