http://www.activelink.com.tw/yellowpage/ 科宇系統代理歐美半導體與光電產業的專業量測分析設備，包括濕製程濃度分析儀、光罩檢查缺陷檢查機台、材料表面輪廓分析與薄膜片電阻量測，以及太陽電池製程片電阻與漏電流量測等機台與周邊耗材。 CI-SEMIWetSpec Real time multi channel concentration monitor濕製程多通道即時濃度監測系統適用於清洗(Clean),蝕刻(Etch),去光阻(Strip)等的化學槽監測，如半導體製程SC1、SC2、BOE、DHF、EKC、ACT; 光電產業Al etch、BOE、PR STRIPPER等;與太陽能製程的HF/HNO3、KOH/IPA等化學液濃度監控。 NIR量測迅速可以即時監控濃度變化，一台主機對應八個不同酸槽不同應用，成本低、擴充彈性大 美國Probing Solutions Inc. PSI Probe Stations晶圓探針台 4"~12" wafer probe. Photomasks Inspection/review station/光罩顯微檢驗機台 inspecting particles on pellicles or glass and pattern defects.專為光罩檢查設計，操作容易搭配8種照明模式容易觀測各種缺陷。 4 Dimensions Inc. CV Mapping system電容-電壓量測系統 C-V, I-V, Q-V...特殊汞探針設計可直接量測無圖形晶圓。 4 point probes 四點探針阻值量測系統適用於半導體或光電產業薄膜阻值量測。Sheet Resistance 片電阻量測 Solar Cell, ITO, Wafer mapping. 另外針對太陽電池應用4D開發出可以量測片電阻與漏電流檢測之專利機種，可以檢測PN Junction漏電流 Jandel Probe Heads 適用各大廠之阻值量測系統使用之四點探探頭，品質優異價格合理 Kernel System Overlay Analyses Software HiROX 3D Digital Microscope System 智邦生活館 版權所有 Foresight v0.3.2 RSS 2.0 Generator 智邦生活館 網站代管 Thu, 23 Dec 2010 12:08:13 CST Thu, 23 Dec 2010 12:08:13 CST 智邦生活館 版權所有 10080 Wed, 30 Jun 2010 13:17:23 +0800 <p>本公司提供四點探針頭品質優良價格實惠</p> <p>如有需求請與本公司連絡 03-6586503</p> http://www.activelink.com.tw/yellowpage/hot.html#13414