名稱：科宇系統有限公司
英文名稱：Active Link System Corp
統一編號：28149849
主打產品服務：四點探針與濕製程濃度量測
正式網址：http://www.activelink.com.tw
服務時間：09:00-18:00 全年無休
負責人或業務聯絡人：許江州

科宇系統代理歐美半導體與光電產業的專業量測分析設備，包括濕製程濃度分析儀、光罩檢查缺陷檢查機台、材料表面輪廓分析與薄膜片電阻量測，以及太陽電池製程片電阻與漏電流量測等機台與周邊耗材。


CI-SEMI
WetSpec Real time multi channel concentration monitor
濕製程多通道即時濃度監測系統適用於清洗(Clean),蝕刻(Etch),去光阻(Strip)等的化學槽監測，如半導體製程SC1、SC2、BOE、DHF、EKC、ACT; 光電產業Al etch、BOE、PR STRIPPER等;與太陽能製程的HF/HNO3、KOH/IPA等化學液濃度監控。
NIR量測迅速可以即時監控濃度變化，一台主機對應八個不同酸槽不同應用，成本低、擴充彈性大


美國Probing Solutions Inc. PSI
Probe Stations晶圓探針台 4"~12" wafer probe.
Photomasks Inspection/review station/光罩顯微檢驗機台 inspecting particles on pellicles or glass and pattern defects.專為光罩檢查設計，操作容易搭配8種照明模式容易觀測各種缺陷。


4 Dimensions Inc.
CV Mapping system電容-電壓量測系統 C-V, I-V, Q-V...特殊汞探針設計可直接量測無圖形晶圓。


4 point probes 四點探針阻值量測系統適用於半導體或光電產業薄膜阻值量測。
Sheet Resistance 片電阻量測 Solar Cell, ITO, Wafer mapping.
另外針對太陽電池應用4D開發出可以量測片電阻與漏電流檢測之專利機種，可以檢測PN Junction漏電流


Jandel Probe Heads 適用各大廠之阻值量測系統使用之四點探探頭，品質優異價格合理

Kernel System Overlay Analyses Software
HiROX 3D Digital Microscope System

服務內容: Probe station 探針台,wet process moniting 濕製程 濃度計,四點探針 4 point probe KLA CDE 4D Jandel,photomask inspection 362PMI MM機,ADE Used System,Hg probe 汞探針,Solar cell 太陽電池 漏電流,電容-電壓C-V量測

主要服務地區：台灣北部, 台灣中部, 台灣南部, 台灣東部

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